旭正精密【高效能多晶燒結碳化矽 (SiC)】極致導熱與熱穩定性的完美結合!高導熱係數多晶燒結碳化矽 SIC熱擴散測試 報告

旭正精密-白光干涉(WLI)檢測實驗報告

紅外線熱像儀/黑體輻射源(Laboratory Hot Plate / Blackbody Source)黑色方形平板加熱源。科學實驗中,為了極高精度的校準,在一般的溫度擴散測試中,這通常是一個具有高發射率(Emissivity)塗層的精密電熱板。 藉由 Fluke 生產的熱像儀能將物體輻射出的紅外線能量轉換為視覺圖像,並即時顯示表面各點的溫度數值,來觀察熱輻射於材料種擴散的速度與狀況。

我們透過 AI 技術優化燒結曲線,讓碳化矽展現驚人的熱傳導性能。不僅耐高溫、低膨脹,更能確保在高熱負載下保持物理結構穩定、不翹曲變形。

實測證明: 熱擴散速度快且分布均勻(如圖示)。將其應用於「熱源與散熱材料」之間作為中界層,能顯著提升整體系統的散熱效益。


旭正精密-白光干涉(WLI)檢測實驗報告 Si3N4_circle

一般市售材料熱擴散 畫面

旭正精密-白光干涉(WLI)檢測實驗報告 Si3N4_circle

旭正SiC均勻高速傳導 畫面


高傳導 旭正SiC 散熱模組

在測量高密度陶瓷元件的鏡面表面時,WLI 能夠準確捕捉表面微缺陷,如凹陷、刮痕或孔洞。
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旭正 SiC 散熱模組



旭正 Si3N4 / SiC 經過精細拋光至鏡面狀態,利用 WLI 進行掃描分析,結果顯示表面連續且平滑,未發現孔洞或微裂縫

由於 WLI 的縱向解析度可達 1 nm,橫向解析度亦可達 300 nm,若樣品內部存在孔隙且連通至表面,會在干涉圖中呈現高度變化。

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旭正 SiC 散熱模組測試 畫面





高導熱係數碳化矽(SiC)材料技術指標

規格 Spec 單位 Unit 數據 Test Standard
純度 % ≧ 98.5
密度 kg/cm3 3.16
莫氏硬度 CNS3299:2006 9
抗折強度 Mpa(ASTM D790-17) 337
熱導係數 W(m*k) ≧ 170
電阻率(Ω) 500 V/sec ( JIS K6911:1995 ) ≧ 4.34 x 107
熱膨脹係數 23~200 °C (ASTM E831-19) 3.266 x 10-6
熱膨脹係數 23~500 °C (ASTM E831-19) 3.913 x 10-6